11月12日，德国半导体展SEMICON Europa 2024在慕尼黑盛大开幕。森美半导体作为先进晶圆探针台制造商参展，推出全球首款V系列新一代高性能探针台。该成果展示了晶圆测试领域的无限创新可能性，也为不断变化的半导体测试市场需求做出了贡献。有力的回应。
中芯半导体CEO刘世文先生携顶尖工程师团队亮相展会，让客户沉浸在中芯半导体最前沿的晶圆测试技术，共同探讨行业见解。展位前人流不断。 V系列探针台一经亮相，就以其高测试灵活性、优异的电性测试精度、一体化工业美学外观、紧凑的尺寸等核心性能，赢得了众多专业人士的好评和青睐。好评不断，现场预售正如火如荼地进行。
随着半导体技术向更加精密复杂的方向发展，科研机构对多元化测试的需求日益增加，半导体封装测试厂商也面临着提高效率、降低成本的挑战。森美半导体V系列探针台不仅继承了明星产品X系列半自动探针台的功能和可操作性，还支持加装装载机，实现手动和自动晶圆装载的自由切换，为科研机构和半导体封装赋能。测试。制造商拥有更高的测试灵活性，可以轻松挑战复杂多变的测试任务。
半导体参数测试对低漏电流的要求非常高。低漏电流测试能力直接关系到半导体器件的质量和可靠性。 Semiconductor 的 V 系列卡盘的漏电流可达到 400fA 以内，使系统能够测量更低的水平。漏电流参数。
（V8卡盘漏电流测试结果）
在外观方面，V系列探针台相比X系列产品实现了重大突破。其尺寸和重量减少至原来的一半，其紧凑的设计大大减少了占地面积。这种改进可以很容易地放置在空间有限的科研实验室或紧凑的生产车间中。完美满足现代半导体行业对空间利用的高要求，帮助企业降本增效。
森美半导体始终专注于半导体测试领域的精耕细作，力求以顶尖技术为全球芯片行业提供更加精准、高效、可靠的测试解决方案。 V8系列新一代探针台，作为团队的匠心之作，将为各类半导体器件的测试流程赋能，让测试过程更简单、更快捷、更高效、更灵活可控。这也是森美半导体一贯坚持创新的体现。深入诠释领先发展、顾客至上的品牌理念。
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